1. 膜片配方开发（导电剂异常分布）评估

　　膜片工艺开发中导电剂的分散情况受原料配方、搅拌条件、涂布、干燥条件等众多复杂工艺控制参数影响，导电剂分散不均将极大恶化电芯动力学性能，很难通过诸如膜片粘结力、色度、外观等监控手段发现，往往容易被忽略，造成不可挽回的经济损失。

　　2. 膜片底涂工艺开发评估

　　对于底涂集流体及中目应膜片电阻都能有效测试并区别出来，为技术开发提供有力保障；膜片电阻测试能有效测量并精准区分微量涂布设计引起的差异。

　　3. 膜片存储可靠性评估

　　通过研究膜片在不同湿度存储后的膜片电阻值，来为生产确定工序控制时间做数据支撑。以下实例可以看出，811膜片的存储越低湿度越有利于膜片的稳定性10%RH的湿度可考虑用于811体系的生产控制湿度。

　　4. 生产来料批次异常评估

　　膜片电阻作为来料检测方法的导入，可降低生产风险、提高生产效率及产品可靠性；

　　案例背景：某生产批次开始电芯DCR（70%SOC）增大异常，针对抽取不同批次正极来料（包含正常与不正常组）进行膜片电阻测量，发现异常来料组的膜片电阻相比于正常组别明显偏高。

　　5. 膜片活性涂层电导率

　　基于膜片电阻数值，通过线性拟合可计算出材料的真实电导率，为产品开发提供技术保障； 如下案例, 可以看出：

　　? 阴极膜片电阻与膜片的涂布重量(厚度)呈明显的线性关系；

　　? 通过相同压力下电阻的线性拟合，可以推算出阴极活性物质的电导率为 2.73 S/m;

　　6. 不同生命周期膜片电阻及压力敏感性分析

　　不同生命周期，膜片反应出不同阻值及压力敏感差异，通过膜片的压力敏感差异，可计算出不同生命周期膜片的膨胀水平差异，为膜片及锂电池分析的评估提供了新的测量表征参数；

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